Personal Software Magazine © WebCard ®

Сигм Плюс siplus.ru

Обновления и архивы

http://siplus.ps1.su
http://siplus.cccj.ru
http://cccj.ru/siplus

www.siplus.ru;
ВакуумТехЭкспо 2016 (т)
Сигм Плюс siplus.ru
ООО
117342, Россия, Москва, ул. Введенского, д. 3
Номера телефона
+7 (495) 2215905
www.siplus.ru
Системы и компоненты систем для анализа поверхности в сверхвысоком вакууме, включающие следующие методы: рентгеновская фотоэмиссионная спектроскопия (XPS), УФ фотоэлектронная спектроскопия (UPS), оже-электронная спектроскопия (AES), спектрометрия ионного рассеяния (ISS), сканирующая туннельная микроскопия (STM), низкоэнергетичная/фотоэмиссионная электронная микроскопия (LEEM/PEEM), дифракция низкоэнергетических электронов (LEED), вторичная ионная масс-спектроскопия (SIMS), масс-спектроскопия рассеянных ионов (SNMS)и спектроскопия электронных энергетических потерь высокого разрешения.
Бренды
SPECS

HpncbOtfxyzql, т, 263

HpncbOtfxyzql, т, 263